Рентгенофлуоресецнтный толщиномер M
Арт. 030126
Рентгенофлуоресцентный толщиномер серии M является высокопроизводительным устройством для измерения толщины гальванических покрытий на мельчайших деталях.
Есть в наличии
Доставка по России
Самовывоз
Технические характеристики
| Диапазон определяемых элементов | от Al13 до U92 |
| Трубка | 50 Вт Mo анод с капиллярной оптикой 15 мкм |
| Детектор | SDD |
| Количество анализируемых слоев и элементов | 5 слоев (4 слоя покрытия+ основание) до 10 элементов в каждом слое, до 25 элементов одновременно |
| Фильтры/коллиматоры | 4 фильтра |
| Фокусное расстояние | Фиксированное (1.27 mm) |
| Управляющий ПК | на базе ОС Windows 10 prof. (или выше), подключение к анализатору 1 USB, не требует специализированного оснащения |
| Видео камера | 1/4″ (6 мм) CMOS- 1280×720 VGA разрешение, 250х |
| Увеличение | 140х оптическое и 7х цифровое, 9х оптическое |
| Вес | 70 кг |
| Моторизированный столик | 431 мм х 406 мм с перемещением 165 мм х 165 мм |
| Моторизированный столик (увеличенный) | по запросу |
| Внутренние размеры измерительной камеры | Высота: 137 мм, Ширина: 310 мм, Глубина: 340 мм |
| Габаритные размеры | Высота: 500 мм, Ширина: 450 мм, Глубина: 600 мм |
Описание
Он оснащен поликапиллярной оптикой, обеспечивающей фокусировку рентгеновского луча до размера 7,5 мкм FWHM, что является более продвинутым решением по сравнению с серией O.
Для обеспечения высокой точности на столь малых масштабах используется видеокамера с 140-кратным увеличением и дополнительным высоким цифровым увеличением. Вторая камера предоставляет макроизображение анализируемой детали, позволяя операторам толщиномера серии M охватывать деталь взглядом и масштабировать изображение для детального просмотра.
Высокоточный программируемый X-Y столик позволяет выбирать и измерять множество точек автоматически, а программное обеспечение для распознавания образов автоматизирует этот процесс. Система двумерного картирования обеспечивает визуализацию топографии покрытия на поверхности детали.
Стандартная конфигурация включает 7,5 мкм оптику и SDD-детектор высокого разрешения, способный обработать большие скорости подсчета. Также в комплектацию входит программируемый X-Y столик. Оптическая система требует плоскости измеряемых образцов, а доступная модификация с моторизированным столиком увеличенного размера расширяет возможности устройства.
Толщиномеры серии M идеально подходят для работы с очень мелкими деталями, требующими тестирования большого количества образцов, измерения крайне тонких покрытий, обеспечения короткого времени измерения и соблюдения международных стандартов.
Связаться с нами
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», Вы соглашаетесь на обработку персональных данных.