Рентгенофлуоресцентный толщиномер X-STRATA 920

Арт. 010504

Hitachi High Tech Analytical

X-STRATA 920 - это рентгенофлюоресцентная система с возможностью микрофокусировки для неразрушающего контроля, быстрых анализов примесных материалов, измерения толщин многослойных покрытий и элементного состава в широком спектре материалов, измеряемые элементы от Ti22 до U9

Нет в наличии
Доставка по России
Самовывоз

Технические характеристики

Тип прибора Рентгено-флюоресцентный
Операционная система Windows
Питание Сеть переменного тока 100-240 В 50\60Гц
Дисплей Внешний (поставляется в комплекте)
Коллиматор Максимальное количество коллиматоров: 6 ,Самый маленький коллиматор: 0.01 x 0.25 мм
Камера ДА
Номер в ГОСРЕЕСТРЕ СИ 57249-14
Возможность определения C (Углерода) НЕТ
Диапазон определяемых элементов Ti - U или Al – U (SDD)
Максимальный размер образца 270 x 500 x 150 мм
Максимальное количество слоев покрытия 4 слоя покрытия + основание

Описание

Анализаторы-толщиномеры используются для определения толщины и качественного состава покрытий, которые наносятся на изделия из металлов и их сплавов гальваническим методом. Анализ производится неразрушающим методом с помощью рентгеновского излучения. С помощью устройств этого типа можно быстро измерить толщину многослойных покрытий, обнаружить примеси других материалов.

Преимущества использования рентгенофлуоресцентных измерителей толщины покрытий:

  • В процессе анализа можно измерить толщину 4 слоев и основы детали;
  • В процессе анализа устройство обнаруживает в составе покрытия до 25 различных химических веществ;
  • Устройства проводят анализ в соответствии с международными стандартами исследований;
  • Высокое разрешение оптической системы дает возможность правильно распознать легкие элементы и измерить их количество в общем объеме.

Для покупки анализаторов-толщиномеров гальванических покрытий обращайтесь к менеджерам магазина «Прометей».

Преимущества модели

arrow Неразрушающий анализ толщины многослойных покрытий и определение химического состава без предварительной подготовки поверхности
arrow 100 % входной контроль
arrow Диапазон измеряемых элементов от Ti до U
arrow Одновременно анализ химического состава по 25 элементам
arrow Анализ маленьких образцов площадью от 150 мкм.
arrow Анализ покрытий на образцах неровной формы (печатные платы, проволока и т.д.)
arrow Экспорт результатов в Excel, Программа для создания отчетов
arrow Измерение толщины до 5 слоев (4 слоя плюс основа) / 15 элементов / межэлементная коррекция
arrow Возможность работы в режиме 24/7
arrow Быстрый, точный, надежный
arrow Послойное измерение толщины по 5 слоям (4 слоя покрытия + основание)
arrow Анализ покрытия в заданных точках поверхности
arrow Анализ растворов
arrow Обнаружение вредных примесей на уровне 10-3 – 10-4 %
arrow Гибкое программное обеспечение на базе Метода Фундаментальных Параметров SmartLink® FP на базе платформы Windows® XP, со встроенным генератором отчетов Report Generator LE
arrow Одновременный анализ до 25 химических элементов

Похожие товары

Связаться с нами

Нажимая на кнопку «Отправить заявку», Вы соглашаетесь на обработку персональных данных.

195279, Санкт-Петербург Индустриальный пр., д. 44 к.2 литера А, офис 838, 840

107065, Москва ул. Камчатская, д.4, корп.2 этаж 1, помещение VIII комната 2, офис 2в

420073, Казань Гвардейская улица, 16Б офис 201А Бизнес Центр "ГВАРДЕЙСКИЙ"

© ООО «ПРОМЕТЕЙ» 2026. Все права защищены.

Поддержка сайта Website78