Рентгенофлуоресцентные толщиномеры
Всего 6 моделейРентгенофлуоресцентный анализатор толщины покрытий INSIGHT
Компактный настольный рентгенофлуоресцентный анализатор INSIGHT разработан для точного измерения толщины как однослойных, так и многослойных покрытий, а также для определения массовой доли химических элементов в покрытиях и материалах.
Стационарный анализатор ScopeX от LANScientific
Стационарный рентгенофлуоресцентный анализатор ScopeX, разработанный компанией LANScientific, представляет собой многофункциональный инструмент для детального качественного и количественного анализа широкого спектра образцов, включая твердые, порошковые, жидкие, фильтрационные и пленочные материалы.
Рентгенофлуоресцентный толщиномер X-STRATA 920
X-STRATA 920 - это рентгенофлюоресцентная система с возможностью микрофокусировки для неразрушающего контроля, быстрых анализов примесных материалов, измерения толщин многослойных покрытий и элементного состава в широком спектре материалов, измеряемые элементы от Ti22 до U9
Рентгенофлуоресцентный толщиномер FT110A
Новый современный рентгено-флюоресцентный анализатор-толщиномер гальванических покрытий FT110A
Рентгенофлуоресцентный толщиномер MAXXI 6
Рентгенофлуоресцентный толщиномер покрытий Maxxi 6 – стационарный рентгенофлуоресцентный анализатор химического состава сплавов и толщины многослойных покрытий в диапазоне элементов от Al до U
Рентгено флуоресцентный толщиномер покрытий FT 150
Прибор FT150 разработан для анализа сверхтонких покрытий, в том числе в современных электронных устройствах, и обеспечивает быстрое получение точных и воспроизводимых результатов
Рентгенофлуоресцентные толщиномеры — вид спектрометров, при помощи которых определяется наличие тех или иных химических элементов в сплавах как черных, так и цветных металлов.
Это оборудование используется при проверке качества сырья, используемого в металлообработке, при дефектоскопии уже готовой продукции, а также для определения марок сталей.
Устройство помогает определять количественный и качественный составы сплавов на основе разницы спектров излучения света, которое образуется при воздействии рентгеновского луча на объект исследования.
Связаться с нами
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», Вы соглашаетесь на обработку персональных данных.