Главная /
Металлографическое оборудование /
Металлографические микроскопы /
Металлографический инвертированный микроскоп Olympus GX53
Металлографический инвертированный микроскоп Olympus GX53
Арт. 080406
Olympus GX53 - это высококлассный инвертированный металлографический микроскоп, предназначенный для исследования структуры металлов, сплавов и других непрозрачных материалов. Благодаря запатентованной оптике UIS2 и инновационному методу наблюдения MIX (совмещение светлого поля и дифференциально-интерференционного контраста), микроскоп обеспечивает исключительную четкость и контрастность изображения даже на сильно отражающих поверхностях. Эргономичная конструкция и возможность быстрой смены увеличений делают GX53 идеальным выбором для металлургических лабораторий, контроля качества и научных исследований.
Есть в наличии
Доставка по России
Самовывоз
Технические характеристики
| Производитель | Evident - Olympus |
| Тип микроскопа | Инвертированный |
| Диапазон увеличений | от 12,5х до 3000х (зависит от комплектации объективами и окулярами) |
| Оптическая система | Бесконечно скорректированная оптическая система UIS2 (Universal Infinity System) |
| Вес | Около. 25 кг (рама микроскопа 20 кг) |
| Метод наблюдения | Светлое поле (BF), Темное поле (DF), Простой поляризационный (POL), Дифференциально-интерференционный контраст (DIC), Флуоресценция (FL), MIX (совмещение светлого поля и DIC) |
| Револьверное устройство | Моторизованная или ручная пятипозиционная турель (с фиксацией положения для DIC) |
| Тип лампы | Галогенная (12 В, 100 Вт) / Опционально LED (с регулировкой интенсивности света) |
| Напряжение питания | ~100–240 В, 50/60 Гц (в зависимости от блока питания) |
| Стандарты | Соответствие стандартам ASTM, ISO, JIS |
| Рабочая температура | От +5°C до +40°C |
| Макс. относительная влажность | 80% для температур до 31 °C (без конденсации). При температуре выше 31 °C, относительная влажность линейно снижается до 70% при 34 °C, до 60% при 37 °C и до 50% при 40 °C |
| Степень загрязнения | 2 (в соответствии с IEC60664-1) |
| Категория монтажа/перенапряжения | II (в соответствии с IEC60664-1) |
| Колебания напряжения питания | ±10 % |
Описание
Инвертированный микроскоп Olympus GX53 представляет собой профессиональное решение для задач материаловедения и металлографии. Разработанный для работы с массивными и крупногабаритными образцами, он открывает широкие возможности для исследования микроструктуры черных и цветных металлов, а также керамики и композитных материалов.
Ключевые преимущества и технологии:
- Главной особенностью GX53 является функция MIX Observation, которая позволяет одновременно использовать светлое поле (BF) и дифференциально-интерференционный контраст (DIC). Это дает возможность получать объемное, рельефное изображение без ореолов, что критически важно для выявления границ зерен, пор и микротрещин.
- Микроскоп оснащен объективами серии UIS2 с улучшенной коррекцией на бесконечность. Они обеспечивают высокую пропускную способность в ближнем ультрафиолете, что позволяет применять флуоресцентные методы и повышает разрешение при работе с цветными металлами.
- Инвертированная конструкция освобождает исследователя от необходимости подготавливать образец строго определенной высоты - образец просто кладется рабочей стороной вниз на предметный столик. Это ускоряет процесс анализа и сохраняет целостность подготавливаемых шлифов.
- Микроскоп готов к интеграции с программным обеспечением для анализа изображений. Он поддерживает моторизованные аксессуары, что позволяет автоматизировать процессы измерения и документирования результатов в соответствии с международными стандартами (ASTM, ISO).
- Возможность работы в широком диапазоне увеличений (от 50x до 1000x и выше) и использование различных методов контрастирования делают GX53 универсальным инструментом как для входного контроля сырья, так и для сложных научных экспериментов.
Olympus GX53 - полностью настраиваемая система с множеством дополнительных компонентов. Микроскоп позволяет выбирать компоненты, необходимые для индивидуального применения, например анализа частиц для подсчета и измерения, установки размера зерна в микроструктуре, оценки графитовой узловатости, содержания неметаллических включений в высокочистой стали, а также сравнения изображения наблюдаемого образца и эталонного изображения.
Преимущества модели
Уникальная технология MIX Observation
Удобство работы с крупными образцами
Микроскоп легко интегрируется с программным обеспечением для анализа изображений, поддерживает моторизованные аксессуары и автоматизацию измерений в соответствии с ГОСТ и международными стандартами (ASTM, ISO).
Высочайшая точность благодаря оптике UIS2
Заранее отцентрированные ахроматические конденсоры и фиксированные положения турели позволяют быстро переключаться между увеличениями, не отвлекаясь от исследования.
Продуманная конструкция и высококачественные материалы гарантируют стабильную работу при интенсивных нагрузках в производственных и научных лабораториях.
Связаться с нами
Нажимая на кнопку «Отправить заявку», Вы соглашаетесь на обработку персональных данных.
